商品情報にスキップ
1 1

ガラス割れモジュールのI-V カーブ推定

ガラス割れモジュールのI-V カーブ推定

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 全国大会

論文No: 27-27

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): I-V Curve estimation of PV module with broken glass

著者名: 澤田 賢(名城大学),上田 紘巨(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Satoshi Sawada,koki Ueda,Sanshiro Yamanaka,Yasuhiro Aoyama,Yuki Nishido,Hiroshi Kobayashi

キーワード: 太陽電池,I-V特性,EL画像

要約(日本語): PVモジュールの不具合の一つとしてガラス割れによる被害が報告されている。EL画像を用いることで亀裂箇所の特定が容易になったがガラス割れによりどれほど出力へ影響を及ぼすのか明らかになっていない。筆者らは1枚のEL画像からガラス割れモジュールのI-V特性を再現することで,出力を推定する方法を検討している。本報告では,検討の前段階として,実際にガラス割れしたモジュールとガラス割れを模擬したモジュールのI-V特性を比較した。その結果,両者のI-V特性はおおむね一致した。しかしガラス割れのI-V特性は不安定でありモジュールの発熱によって特性が大きく変わることが確認できた。今後は発熱前後のセルの特性変化の原因について検討する。

本誌掲載ページ: 7-018 p

原稿種別: 日本語

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する