メガソーラでのSi-PVモジュールの異常検出-逆バイアス特性を持つセルを含むケース

カテゴリ: 全国大会

論文No: 32-33

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Fault detection utilizing System Acceptance method for PV systems -In the case of reverse biased Si PV modules.

著者名: 井上 芳範(富士電機),福島 宗次(富士電機),篠沢 秀幸(富士アイティ)

著者名(英語): Yoshinori Inoue,Souji Fukushima,Hideyuki Shinozawa

キーワード: 太陽光発電,PVモジュール,異常診断,メガソーラ

要約(日本語): PVセル異常による逆バイアス特性がもたらす影響を、結晶シリコンモジュールを使ったメガソーラ運転下のデータに基づき、SA法を使ってPVモジュール上のホットスポットの検出により報告する。

本誌掲載ページ: 7-022 p

原稿種別: 日本語