セルの遮光面積とホットスポット発生時間の関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 42-42

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): The relation between shaded area of cell and hot spot generation time

著者名: 上田 紘巨(名城大学),佐藤 弘輝(名城大学),澤田 賢(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Koki Ueda,Hiroki Sato,Satoshi Sawada,Sanshiro Yamanaka,Yasuhiro Aoyama,Yuki Nishido,Hiroshi Kobayashi

キーワード: 太陽電池,バイパスダイオード,開放故障,ホットスポット

要約(日本語): バイパスダイオードが開放故障すると，ホットスポットが発生し，セルを損傷させる恐れがある。そのため，開放故障の箇所を特定する方法が必要である。そこで，筆者らは熱画像を用いて，故障箇所を特定する方法を検討している。この方法はセルを遮光する面積によってはセルを損傷させる恐れがあるため，損傷させない適切な遮光面積を決定する必要がある。これまでの研究では一種類のモジュールでセルを遮光する面積の割合とホットスポットによる焦げの発生時間の関係を検討した。そこで，本報告は公称値の異なるモジュールで，これまでと同様の検討を行ったところ，高温に発熱した面発熱によるバックシートが損傷することが分かった。

本誌掲載ページ: 7-029 p

原稿種別: 日本語