赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路開放故障検出技術－温度変化の周波数解析への日射強度の影響－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 43-44

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Fault Detection Technology for Open Fault of Bypass Circuit for PV Module by IR Camera - Effect of Irradiance on Frequency Analysis of Temperature Change

著者名: 藤田 直希(日本大学),黒田 拓希(日本大学),西川 省吾(日本大学)

著者名(英語): Naoki Fujita,Hiroki Kuroda,Shogo Nishikawa

キーワード: 太陽電池,故障検出,バイパス回路,赤外線カメラ,熱画像,周波数解析

要約(日本語): 現在、太陽電池モジュールのバイパス回路開放故障の検出技術の確立が急務とされている。そこで筆者らは、外部電源と赤外線カメラを用いる故障検出方法を提案した。これは交流電圧をモジュールに印加し故障箇所の温度を意図的にある周期を持たせて変化させ、その温度変化を赤外線カメラにより観測し、それを周波数解析することで故障箇所を特定するものである。今回はその技術における日射強度の影響を調査したが、この手法では200W/m^2程度の低日射から1000W/m^2程度の高日射まで、日射強度の高低に関係なく故障箇所の特定が可能であることを確認した。また、周波数解析結果を二値化画像として表示することで故障箇所の可視化に成功した。

本誌掲載ページ: 7-030 p

原稿種別: 日本語