赤外線カメラによる太陽電池モジュールバイパス回路の部分開放故障検出技術－低抵抗開放故障の場合－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 45-46

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Fault Detection Technology for Partial Open Fault of Bypass Circuit for PV Module with IR Camera-In Case of Low Resistance Open Fault-

著者名: 黒田 拓希(日本大学),藤田 直希(日本大学),西川 省吾(日本大学)

著者名(英語): Hiroki Kuroda,Naoki Fujita,Shogo Nishikawa

キーワード: 太陽電池,故障検出,バイパス回路,赤外線カメラ,熱画像

要約(日本語): 現在、太陽電池モジュールのバイパス回路開放故障の検出技術の確立が急務とされている。筆者らはこれまでバイパス回路が完全に開放した故障(以下、完全開放故障)では交流電圧を印加、完全開放には至らないが抵抗値が増加した故障(以下、部分開放故障)では一定電圧を印加することで故障箇所の検出が可能である技術を提案してきた。しかしながら、その手法においてバイパス回路が正常という判断は電源の過電流保護装置の動作でのみ判断しており、これでは部分開放故障を正常と誤った判断をする場合があった。今回は定電流試験による部分開放故障検出技術について調査し、4Ωの部分開放故障を検出することが可能であることを確認した。

本誌掲載ページ: 7-031 p

原稿種別: 日本語