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等角写像を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定法の理論-隣接コアのある場合の測定電極配置と電磁界解析による検証-

等角写像を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定法の理論-隣接コアのある場合の測定電極配置と電磁界解析による検証-

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 241-241

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Measurement Method Theory of Resistivity of Semi-conductive Layers for XLPE Cables Based on Conformal Mapping -Arrangements of Measurement Electrodes on Cable Core and Verification by Electromagnetic Analysis-

著者名: 渡辺 和夫(千葉大学),菅原 賢悟(近畿大学)

著者名(英語): Kazuo Watanabe,Kengo Sugahara

キーワード: CVケーブル,半導電層,抵抗率,測定法,等角写像,電磁界解析

要約(日本語): 高電圧架橋ポリエチレン絶縁ケーブル(CVケーブル)の架橋ポリエチレン絶縁体の高圧導体側と接地導体側との界面は電界緩和のため薄肉・平滑の半導電ポリエチレン層が施される。この半導電層の抵抗率測定法について,これまで筆者はドラムに多層・多列に密に巻かれた長尺ケーブルコア(外部半導電層までの半製品)の最外層のコア表面を利用した非破壊測定法を提案してきた。本報告では、有限要素法を用いた数値計算によるその検証結果を報告する。

本誌掲載ページ: 7-148 p

原稿種別: 日本語

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