部分放電によるシリコーンゴム表面劣化の定量的評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-001

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Quantitative Evaluation of Surface Deterioration of Silicone Rubber Caused by Partial Discharge

著者名: 小松一輝（名古屋工業大学）,劉浩（名古屋工業大学）,伊藤悠紀（名古屋工業大学）,水野幸男（名古屋工業大学）

著者名(英語): Kazuki Komatsu (Nagoya Institute of Technology),Hao Liu (Nagoya Institute of Technology),Yuki Ito (Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno (Nagoya Institute of Technology)

キーワード: シリコーンゴム|部分放電|劣化|表面粗さ|フラクタル|シリコーンゴム|ブブンホウデン|レッカ|ヒョウメンアラサ|フラクタル

要約(日本語): 高分子がいしとして用いられるシリコーンゴムに関して、耐部分放電劣化性能を評価するため試験を行っている。 部分放電試験により劣化したシリコーンゴム試料表面の表面粗さ測定により算術平均粗さRaと粗さ曲線のフラクタル次元Dを得た。これらによりシリコーンゴム表面の部分放電劣化の進行を定量的に評価し、絶縁破壊の指標となる物理量を検討した。試験が進行するにつれてそれぞれ値は増加するが、複数の試験結果から絶縁破壊時の値はRaにはばらつきがあり、Dはおおよそ同じ値を得た。

本誌掲載ページ: 1-2 p

原稿種別: 日本語