陽子線照射されたパワーエレクトロニクス絶縁材料の空間電荷分布測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-030

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Measurements of charge distributions in insulation materials of power electronics equipment irradiated by proton

著者名: 榎海星（東京都市大学）,三宅弘晃（東京都市大学）,田中康寛（東京都市大学）,宮路仁崇（三菱電機）,田尻邦彦（三菱電機）,塩田裕基（三菱電機）

著者名(英語): Kaisei Enoki (Tokyo City University),Hiroaki Miyake (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University),Yoshitaka Miyaji (Mitsubishi Electric Corporation),Kunihiko Tajiri (Mitsubishi Electric Corporation),Hiroki Shiota (Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: パワーエレクトロニクス機器|陽子線|放射線劣化|PEA法|空間電荷分布測定|パワーエレクトロニクスキキ|ヨウシセン|ホウシャセンレッカ|PEAホウ|クウカンデンカブンプソクテイ

要約(日本語): パワーエレクトロニクス機器は様々な環境下で使用されており、放射線による材料劣化等が懸念される。本研究では放射線、特に陽子線による絶縁材料の絶縁性能の低下に注目し、パルス静電応力法を用いて、陽子線を照射した絶縁材料内の空間電荷分布測定を行った。その結果、陽子線照射により、直流課電時に絶縁材料内への正負ホモ電荷の注入量が増加した。正電荷の蓄積位置は陽子の飛程と概ね一致し、未照射時よりも材料内部へ侵入しており、直流電圧短絡後も正電荷が多く残留した。また、この電荷蓄積により材料内電界は未照射時と比較し1.3倍増加した。なお、正電荷の蓄積は、陽子線照射による分子構造や導電率変化等に起因すると考えられる。

本誌掲載ページ: 34-35 p

原稿種別: 日本語