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電子線照射劣化FEPの吸光度測定によるエネルギーギャップ評価

電子線照射劣化FEPの吸光度測定によるエネルギーギャップ評価

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-033

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Band gap of electron irradiated FEP evaluated by evaluation by absorbance measurement

著者名: 堀口嘉弘(東京都市大学),武田岳大(東京都市大学),三宅弘晃(東京都市大学),田中康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Yoshihiro Horiguchi (Tokyo City University),Takehiro Takeda (Tokyo City University),Hiroaki Miyake (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University)

キーワード: 高分子材料|電子照射特性|宇宙環境|吸光度測定|エネルギーギャップ|コウブンシザイリョウ|デンシショウシャトクセイ|ウチュウカンキョウ|キュウコウドソクテイ|エネルギーギャップ

要約(日本語): 宇宙機が運用される環境では、多層断熱材や太陽光反射材に用いられている高分子系絶縁材料に電子や陽子等の高エネルギー荷電粒子などが照射され、劣化する。これにより宇宙機材料は運用初期と後期で帯電状況が変化し、劣化状態が進行すると運用に致命的な放電を引き起こすものと考えらえる。したがって、宇宙機の運用信頼性向上のためには、宇宙機材料の絶縁特性の運用中の変化を把握する必要がある。本報告では軌道上での運用環境を模擬した電子線を試料に照射し、材料の絶縁物性の変化、特にバンドギャップがどの様に変化するかを、真空紫外から可視光の広いエネルギー範囲における吸光度測定により法を用いて、フッ素系絶縁材料の吸光度を測定し、HOMO-LUMO間のエネルギーギャップの変化を評価した。

本誌掲載ページ: 37-38 p

原稿種別: 日本語

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