有限要素法による経上皮電気抵抗値と測定誤差の電極パターン依存性の解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-130

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Analysis of TEER measurement error depending on electrode patterns using finite element analysis

著者名: 宮崎貴史（京都大学）,平井義和（京都大学）,亀井謙一郎（京都大学）,土屋智由（京都大学）,田畑修（京都大学）

著者名(英語): Takashi Miyazaki (Kyoto University),Yoshikazu Hirai (Kyoto University),Ken-ichiro Kamei (Kyoto University),Toshiyuki Tsuchiya (Kyoto University),Osamu Tabata (Kyoto University)

キーワード: 経上皮電気抵抗|マイクロ流体デバイス|有限要素法|電流密度分布解析|測定誤差|ケイジョウヒデンキテイコウ|マイクロリュウタイデバイス|ユウゲンヨウソホウ|デンリュウミツドブンプカイセキ|ソクテイゴサ

要約(日本語): 経上皮電気抵抗（TEER）は、細胞単層のバリア機能を非侵襲、非標識かつリアルタイムに測定可能な指標であり、創薬スクリーニングにおける重要な評価項目である。しかし、デバイス構成によって、同一の細胞種を用いても測定値が異なるという問題が指摘されている。そこで、マイクロ流体デバイスでの正確なTEER測定を目的に、有限要素法による電流密度分布解析を行い、測定精度に関する指標である感度分布とインピーダンス測定結果から算出されるTEER値を比較した。その結果、TEER測定値が電極形状に依存し、感度変動を小さくすると測定誤差が低減されることを解析的に示した。

本誌掲載ページ: 189-190 p

原稿種別: 日本語