近接配線によるゲート電圧保持現象の検証

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-014

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Verification of Gate-Source Voltage Retention Phenomenon by Proximity Wiring

著者名: 碓井璃菜（舞鶴工業高等専門学校）,松本瀬名（舞鶴工業高等専門学校）,七森公碩（舞鶴工業高等専門学校）

著者名(英語): Rina Usui (National Institute of Technology, Maizuru College),Sena Matsumoto (National Institute of Technology, Maizuru College),Kimihiro Nanamori (National Institute of Technology, Maizuru College)

キーワード: ゲート電圧保持|近接配線|磁気結合|誤点呼ロック現象|ゲートデンアツホジ|キンセツハイセン|ジキケツゴウ|ゴテンコロックゲンショウ

要約(日本語): 本研究では、回路パターン上の近接配線の磁気結合をシミュレーション上で再現し、Ls- Lssの結合係数を変化させることで誤点弧ロック現象を確認した。今回の条件においては、結合係数が0.4未満であれば誤点弧ロック現象を抑制可能である。また実機において主回路電流が流れる経路とゲート配線との距離を変えた場合におけるゲート・ソース間電圧を測定し、実際の回路上においてもLs - Lssの磁気結合の影響を確認した。以上より、近傍配線による磁気結合が誤点弧ロック現象の発生に関与していると言える。

本誌掲載ページ: 25-26 p

原稿種別: 日本語