JT-60SA中心ソレノイドにおける電源から生じる共振現象の調査

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-158

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Investigation of Resonance Phenomenon caused by Power Supply on JT-60SA CS Module

著者名: 廣瀬雄太（上智大学）,目黒博嵩（上智大学）,園田翔梧（上智大学）,中村一也（上智大学）,村上陽之（量子科学技術研究開発機構）,木津要（量子科学技術研究開発機構）

著者名(英語): Yuta Hirose (Sophia University),Hirotaka Meguro (Sophia University),Shogo Sonoda (Sophia University),Kazuya Nakamura (Sophia University),Haruyuki Murakaimi (National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology),Kaname Kizu (National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology)

要約(日本語): JT-60SAの超電導マグネットの中心ソレノイド(CS)はコイルのインダクタンスと導体間のキャパシタンスによる共振現象が発生し，理想的な端子間電圧の分圧値に比べてより高い電圧が加わる可能性がある。これは導体間の設計値を超え，絶縁の破壊につながる恐れがある。本研究では，CSモジュール解析モデルにおいて，JT-60SAの電源と同様の特性を持つJT-60Uの電源の電圧をCSモジュールに印加した場合の，共振現象が及ぼす層間の電圧分布への影響を評価した。解析の結果，電圧分布において層間の規格化電圧の最大値は設計値の規格化電圧よりも小さいため，層間の絶縁は損傷しないことが示された。

本誌掲載ページ: 256-257 p

原稿種別: 日本語