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短絡試験電流計測におけるCTの等価回路

短絡試験電流計測におけるCTの等価回路

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-057

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Equivalent circuit of the CT for short circuit current measurement

著者名: 野中強也(東京電機大学),腰塚正(東京電機大学),日髙邦彦(東京電機大学)

著者名(英語): Kyoya Nonaka (Tokyo Denki University),Tadashi Koshizuka (Tokyo Denki University),Kunihiko Hidaka (Tokyo Denki University)

要約(日本語): 短絡試験回路の固有過渡回復電圧(TRV)は、ダイオードなどを用いた低電圧で計測されることが多い。このとき、ダイオードや測定器の特性によって電流零点が判然としないという問題があるが、シャントや変流器(CT)などの測定器の影響についての検討は少ない。 本研究の目的は、測定器がTRV測定に与える影響、特にシャントやCTによる電流測定での影響を検討することである。そのために、今回はCTの等価回路についての検討を行った。本研究では、最初にCTの周波数特性を実測した。その結果、通電側の状態によって周波数特性が異なることが分かった。この結果から、CTの等価回路を製作し、計算により実測とほぼ同等な周波数特性になることを確認した。

本誌掲載ページ: 76-77 p

原稿種別: 日本語

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