近距離線路故障（SLF）遮断試験用模擬線路の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-058

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Development of Artificial Line for Short Line Fault (SLF) Interruption Test

著者名: 赤星卓勇（三菱電機）,高橋美香（三菱電機）,木下定之（三菱電機）,澤田達男（三菱電機）,小松健（三菱電機）,皆川忠郎（三菱電機）

著者名(英語): Takao Akahoshi (Mitsubishi Electric Corporation),Mika Takahashi (Mitsubishi Electric Corporation),Sadayuki Kinoshita (Mitsubishi Electric Corporation),Tatsuo Sawada (Mitsubishi Electric Corporation),Ken Komatsu (Mitsubishi Electric Corporation),Tadao Minagawa (Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: 近距離線路故障遮断|過渡回復電圧|SLF回路|遅れ時間|非線形周波数依存モデル|電流零点|キンキョリセンロコショウシャダン|カトカイフクデンアツ|エスエルエフカイロ|オクレジカン|ヒセンケイシュウハスウイゾンモデル|デンリュウゼロテン

要約(日本語): 近距離線路故障遮断試験に用いる模擬線路（以下SLF回路と記す）を一新し、合わせてTRVパラメータを自動読み取りしうる固有TRV測定システムを開発したので報告する。SLF回路は、L，C多段構成のπ形回路やLCR並列回路などが存在するが、いずれの回路も基本的な回路構成だけでは規格要求の遅れ時間の無いTRVを発生させることは難しい。今回導入した遅れ時間補償用リアクトル付きのLCR並列回路により、電圧測定用分圧器及び補助遮断器を含めた浮遊静電容量が大きい場合でも遅れ時間の無いTRV波形を容易に発生することが可能となった。また、固有TRV測定波形から電流零点を決定するアルゴリズムを確立しTRVパラメータの高精度自動読み取りを可能とした。

本誌掲載ページ: 77-79 p

原稿種別: 日本語