高温SF6ガスへのC2F4/BN溶発分解蒸気および銅蒸気の混入による構成化学種の変化?CuF2 およびCuFの衝突電離断面積?

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-060

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル：高温SF₆ガスへのC₂F₄/BN溶発分解蒸気および銅蒸気の混入による構成化学種の変化?CuF₂ およびCuFの衝突電離断面積?

タイトル(英語): Component Species in High-Temperature SF₆ Gas Mixture with Ablated C₂F₄/BN and Copper Vapor? Electron-Collision Ionization Cross Section for CuF₂ and CuF ?

著者名: 石井達也（名古屋大学）,横水康伸（名古屋大学）,兒玉直人（名古屋大学）,杉田武弘（名古屋大学）,寺田将直（日立製作所／名古屋大学）,浦井一（日立製作所）,黒田真未（日立製作所）

著者名(英語): Tatsuya Ishii (Nagoya University),Yasunobu Yokomizu (Nagoya University),Naoto Kodama (Nagoya University),Takehiro Sugita (Nagoya University),Masanao Terada (Hitachi, Ltd./Nagoya University),Hajime Urai (Hitachi, Ltd.),Mami Kuroda (Hitachi, Ltd.)

キーワード: ガス遮断器|臨界電界|SF6ガス|PTFE|Cu|ガスシャダンキ|リンカイデンカイ

要約(日本語): SF₆遮断器の大電流遮断過程では，様々な分子種から構成される高温ガスが形成される。高温ガスの実効電離係数および臨界電界は，電気絶縁特性を示す有用な基本量である。本研究では，高温SF₆ガスに，ノズル材C₂F₄/BN溶発蒸気および電極材料のCu蒸気が混入した際の臨界電界の導出を試みている。本稿では，同高温ガスの化学組成の1例を示している。次いで，その構成分子であるCuF₂およびCuF について，電子衝突電離断面積を述べている。今後は，化学組成および電子衝突断面積を用いて，300から4000KにおけるSF₆/C₂F₄-BN/Cu混合ガスの絶縁特性を明らかにする。

本誌掲載ページ: 80-81 p

原稿種別: 日本語