赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路の短絡故障検出技術－複数箇所短絡故障の場合－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-010

グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集

発行日: 2020/03/01

タイトル(英語): Fault Detection Technology for Short Fault of Bypass Circuit for PV Module with IR Camera-In Case of Multiple Short Faults Occurrence-

著者名: 黒田拓希（日本大学）,藤田直希（日本大学）,西川省吾（日本大学）

著者名(英語): Hiroki Kuroda (Nihon University),Naoki Fujita (Nihon University),Shogo Nishikawa (Nihon University)

キーワード: 太陽電池|故障検出|バイパス回路|赤外線カメラ|熱画像|二値化|タイヨウデンチ|コショウケンシュツ|バイパスカイロ|セキガイセンカメラ|ネツガゾウ|ニチカ

要約(日本語): 太陽電池モジュールにはバイパスダイオード(以下Db)を含むバイパス回路が設けられている．しかしDbが短絡故障した場合，モジュール全体の出力は低下してしまう．筆者らはこれまで外部から太陽電池モジュールに対して方形波の逆電流を流し意図的に規則性を持たせた温度変化をモジュール表面に生じさせ，その温度変化を赤外線カメラによって観測し，周波数解析することで短絡故障箇所を特定する技術を提案してきた．しかし，実際のフィールドでは1ストリングに複数のバイパス回路が同時に短絡故障していることがある．本報告では短絡故障を複数模擬し，故障検出可能か調査した結果，十分に故障検出が可能であることを確認した．

本誌掲載ページ: 13-15 p

原稿種別: 日本語