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がいしの確率論的汚損設計の基礎検討
がいしの確率論的汚損設計の基礎検討
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 7-084
グループ名: 【全国大会】令和2年電気学会全国大会論文集
発行日: 2020/03/01
タイトル(英語): Fundamental Assessment of Probabilistic Contamination Design of Insulator
著者名: 伊藤健太(名古屋工業大学),水野幸男(名古屋工業大学),前田元宏(日本ガイシ),近藤邦明(日本ガイシ)
著者名(英語): Kenta Ito (Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno (Nagoya Institute of Technology),Motohiro Maeda (NGK Insulators, Ltd.),Kuniaki Kondo (NGK Insulators, Ltd.)
キーワード: がいし|汚損|送電線|確率論的手法|フラッシオーバ危険率|ガイシ|オソン|ソウデンセン|カクリツロンテキシュホウ|フラッシオーバキケンリツ
要約(日本語): 筆者らは、合理的・経済的ながいしの耐汚損設計手法確立を目的として、影響を与える要因の確率分布を考慮する手法を提案し、直流送電線を対象として評価を行ってきた。 今回は、500kV交流送電線における従来の決定論的な汚損設計例を参考に、提案手法の適用・検討を行った結果、提案する確率論的手法によるがいしの耐汚損設計の可能性が示唆された。
本誌掲載ページ: 141-142 p
原稿種別: 日本語
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