サブサーフェス磁気イメージングシステムの整流ダイオードへの適用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-045

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

タイトル(英語): Application of Sub - Surface Magnetic Imaging to Rectifier Diode

著者名: 角真輝（千葉工業大学）,佐藤宣夫（千葉工業大学）

著者名(英語): Masaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Nobuo Satoh (Chiba Institute of Technology)

キーワード: 整流用ダイオード|電流経路画像|サブサーフェス磁気イメージングシステム|故障解析|非破壊検査技術|Rectifier Diode|Current Path Image|Sub-Surface Magnetic Imaging System|Failure Analyses|Non-Destructive Evaluation Technology

要約(日本語): 様々な電気電子回路において，整流用ダイオードの整流特性を利用した回路設計が確立されている．特に，電源回路における整流用ダイオードは逆流防止保護機能を担い，その故障が回路機能不全へと波及するため，電源回路内の素子として高い耐圧性能が求められる．そのため，劣化や破損に伴う故障解析が必要不可欠であり，整流用ダイオードの動作状態の非破壊による検査手法の確立が求められている．本報告では，サブサーフェス磁気イメージングシステム（FOCUS-001，IGS 社特注）を用いて，整流用ダイオード(ON Semiconduc

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 357 Kバイト