走査型プローブ顕微鏡を用いた焦電素子のナノスケール観測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-047

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

タイトル(英語): Nanoscale Observation of Pyroelectric Device by Scanning Probe Microscope

著者名: 出口雄一（千葉工業大学）,佐藤宣夫（千葉工業大学）

著者名(英語): Yuichi Deguchi (Chiba Institute of Technology),Nobuo Satou (Chiba Institute of Technology)

キーワード: 焦電体|焦電効果|多機能プローブ顕微鏡|ケルビンプローブフォース顕微鏡|Pyroelectricity|pyroelectric effect|Multi-Function Scanning Probe Microscope|Kelvin probe Force Microscope

要約(日本語): 有機太陽電池デバイスなど，材料物性と内部現象が解明されていない事例もあり，興味対象となるデバイスおよび材料に光照射した状態での走査型プローブ顕微鏡（SPM）観測を実施することで，デバイス動作のメカニズムを評価・解析する技術が確立されると考えられる．そこで本研究では，熱エネルギーを電気エネルギーに変換することができる焦電体に着目し観測を行った．観測方法として，焦電体を振幅変調原子間力顕微鏡，ケルビンプローブフォース顕微鏡（AM-AFM/KFM）を用いて表面形状像，表面電位像を観測することで焦電体表面での現象

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 522 Kバイト