エポキシ樹脂中に残存する不純物が空間電荷蓄積特性に与える影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-027

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

タイトル(英語): Effect of impurities remaining in epoxy resin on space charge accumulation characteristics

著者名: 斉藤奈穂（東京都市大学）,佐藤孔亮（東京都市大学）,三宅弘晃（東京都市大学）,田中康寛（東京都市大学）

著者名(英語): Naho Saito (Tokyo City University),Kosuke Sato (Tokyo City University),Hiroaki Miyake (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University)

キーワード: 空間電荷|エポキシ樹脂|パルス静電応力法|残留塩素|space charge|epoxy resin|pulsed electroacoustic method|Residual chlorine

要約(日本語): 近年、高温・高電界下でも動作が可能なSiCやGaN等を用いたワイドギャップ半導体素子が登場しており、これらの素子の絶縁には耐熱性の高いエポキシ樹脂が用いられている。しかし、それらの半導体が用いられるような高温高電界下ではエポキシ樹脂中に空間電荷の蓄積が生じ、絶縁破壊に至る危険性があることが報告されている。エポキシ樹脂内の空間電荷の蓄積要因としては、材料中の不純物のイオン化が原因の一つであると考えられ、中でも、エポキシ樹脂の重合の際に発生する塩素系の不純物が主なイオン源であると考えられる。そのため本研究では

原稿種別: 日本語

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