電子線照射されたETFEの吸光度測定によるエネルギーギャップの推定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-045

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

タイトル(英語): Estimation of energy gap of ETFE irradiated by electron using VUV- bis

著者名: 兵頭康平（東京都市大学）,堀口嘉弘（東京都市大学）,佐藤孔亮（東京都市大学）,三宅弘晃（東京都市大学）,田中康寛（東京都市大学）

著者名(英語): Kohei Hyodo (Tokyo city university Department of mechanical systems engineering. Faculty of engineering.),Yoshihiro Horiguchi (Tokyo city university Department of mechanical systems engineering. Faculty of engineering.),Kosuke Sato (Tokyo city university

キーワード: 宇宙機用絶縁材料|電子線劣化|光物性|吸光度|ETFE|エネルギーギャップ|Insulating materials for spacecraft|Electron beam deterioration|Optical physics|Absorbance|ETFE|Energy gap

要約(日本語): 宇宙機の帯電放電現象を事前に把握し、対策をするためには、宇宙環境で一定期間運用した状況を模擬した材料の物性値が必要となる。本研究では電子線照射後の放射線劣化による、宇宙機用絶縁材料であるフッ素系絶縁材料の吸光度を測定し、エネルギーギャップfgの変化を推定した。静止軌道高度上で宇宙機が受ける3年間運用し劣化した状態を模擬した試料と未照射の試料を比較した。その結果、未劣化試料ではφg=7.70 eV、3年劣化した試料ではφg=6.05 eVとそれぞれ求まり、電子線劣化によってφgが低下

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 364 Kバイト