エポキシナノコンポジットの誘電率及び電気トリー破壊強度にナノ粒子空孔が及ぼす影響
エポキシナノコンポジットの誘電率及び電気トリー破壊強度にナノ粒子空孔が及ぼす影響
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-056
グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集
発行日: 2021/03/01
タイトル(英語): Effect of Nanofiller Pore on Permittivity and Electric Tree Breakdown Strength of Epoxy Nanocomposites
著者名: 紫村未来(名古屋大学),田河和真(名古屋大学),杉本重幸(名古屋大学),加藤丈佳(名古屋大学),栗本宗明(名古屋大学),鈴置保雄(愛知工業大学)
著者名(英語): Mirai Shimura (Nagoya University),Kazuma Tagawa (Nagoya University),Shigeyuki Sugimoto (Nagoya University),Takeyoshi Kato (Nagoya University),Muneaki Kurimoto (Nagoya University),Yasuo Suzuoki (Aichi Institute of technology)
キーワード: 中空シリカナノ粒子|電気トリー|ナノコンポジット|交流絶縁破壊電圧|hollow-silica nanofiller|electric treeing|nanocomposites|AC breakdown voltage
要約(日本語): 中空シリカナノ粒子(以下,中空ナノシリカ)は、エポキシ樹脂を低誘電率化し(1,2)、その内部のナノサイズ空孔は平等電界下のエポキシ樹脂の交流絶縁破壊強度の欠陥にならない(3)。本報告では,中空ナノシリカを添加したエポキシ樹脂(エポキシ/中空シリカナノコンポジット:中空NC)の誘電率および電気トリー貫通破壊強度を、空孔を持たないシリカナノ粒子(以下,中実ナノシリカ)を添加したエポキシ樹脂(中実NC)と比較し、ナノ空孔が及ぼす影響を検討した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 394 Kバイト
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