伝送線モデル素子を組み込んだ等価回路を用いたSi系リチウムイオンキャパシタの劣化進行に関するインピーダンス解析
伝送線モデル素子を組み込んだ等価回路を用いたSi系リチウムイオンキャパシタの劣化進行に関するインピーダンス解析
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-080
グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集
発行日: 2021/03/01
タイトル(英語): Impedance spectroscopy on the aging of Si-based lithium-ion capacitor by using equivalent circuit including transmission line model element
著者名: 江口卓弥(秋田大学),沢田圭一郎(秋田大学),富岡雅弘(秋田大学),熊谷誠治(秋田大学)
著者名(英語): Takuya Eguchi (Akita University),Keiichiro Sawada (Akita University),Masahiro Tomioka (Akita University),Seiji Kumagai (Akita University)
キーワード: リチウムイオンキャパシタ|インピーダンス解析|伝送線モデル|Lithium-ion capacitor|Impedance spectroscopy|Transmission line model
要約(日本語): 本研究では,Si負極にLiイオンが挿入された状態とLiイオンが脱離した状態のリチウムイオンキャパシタ(LIC)に対して電気化学インピーダンス法(EIS)を適用し,固体電解質界面(SEI)膜の抵抗と電極の電荷移動抵抗の関連について調査した。また,Si系LICのサイクル劣化に伴うインピーダンススペクトル変化について伝送線モデルを組み込んだ等価回路を用いて解析した。そして,Si系LICの劣化に対しての当該等価回路を用いたEIS解析の有効性について検討し、Si系LICの劣化進行に対する当該等価回路の有効性を確認で
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 519 Kバイト
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