多層ニューラルネットワークを用いた論理回路推定アルゴリズムによる異物混入検査への適用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-035

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

タイトル(英語): Application of Estimation Logic Circuit using Multilayered Neural Network for Contamination Inspection

著者名: 坪井勇政（ジック）,廣瀬大晃（明治大学）,小野治（明治大学）

著者名(英語): Yusei Tsuboi (SICK),Taiko Hirose (Meiji University),Osamu Ono (Meiji University)

キーワード: 論理回路推定|ニューラルネットワーク|食品業界|画像処理|外観検査|異物検査|logic circuit estimation|neural network|food industry|image processing|visual inspection|contamination inspection

要約(日本語): 著者らの研究グループでは、多層ニューラルネットワークにより複雑な論理演算を推定する手法を提案している。しかし、社会実装におけるネットワークの大規模化や実画像を使った具体的方法までは提案されていない。本研究では食品業界における異物混入検査のための論理回路を推定し、実アプリケーションへ適用するための手法を提案する。入力画像の各ピクセル輝度値を二値化論理回路により二値化する。二値化されたデータから、意図しないノイズの有無等を判定する。これらの論理回路を推定することにより、画像処理による外観検査に応用することがで

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 607 Kバイト