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低圧開閉器の多数回開閉における接点消耗予測
低圧開閉器の多数回開閉における接点消耗予測
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 6-052
グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集
発行日: 2021/03/01
タイトル(英語): Estimation of Contact Erosion under Frequent Switching in Low Voltage Switch
著者名: 堀田克輝(三菱電機),稲垣省吾(三菱電機),竹本智彦(三菱電機),稲口隆(三菱電機)
著者名(英語): Katsuki Hotta (Mitsubishi Electric Corporation),Shogo Inagaki (Mitsubishi Electric Corporation),Tomohiko Takemoto (Mitsubishi Electric Corporation),Takashi Inaguchi (Mitsubishi Electric Corporation)
キーワード: 低圧|開閉器|アーク|接点|消耗|Low Voltage|Switch|Arc|Contact|Erosion
要約(日本語): 低圧気中開閉器には負荷電流の多数回開閉責務があり,その接点寿命性能を推定する技術が接点設計に必要である.今回,接点厚みの変化によるアークエネルギ推移を考慮することで,多数回開閉における接点消耗を予測できることを明らかにした.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 388 Kバイト
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