システムインテグレーションのためのSiCとGaNにおけるモジュール・放熱・信頼性

カテゴリ: 全国大会

論文No: S11-2

グループ名: 【全国大会】令和3年電気学会全国大会論文集

発行日: 2021/03/01

著者名: 舟木剛（大阪大学）,山本真義（名古屋大学）,中尾一成（福井工業大学）,中村孝（福島SiC応用技研）,小谷和也（東芝インフラシステムズ）

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