陽子線誘起二次電子計測システムの構築およびAuを用いた実測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-039

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Instrumentation and Measurement of Secondary Electron Emission Yield from Au Bombarded with Protons

著者名: 矢島大幹（東京都市大学）,小森あかね（東京都市大学）,三宅弘晃（東京都市大学）,田中康寛（東京都市大学）,羽倉尚人（東京都市大学）

著者名(英語): Hiroki Yajima (Tokyo City University),Akane komori (Tokyo City University),Hiroaki Miyake (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University),Naoto Hagura (Tokyo City University)

キーワード: 二次電子|陽子線|Secondary Electron|Proton

要約(日本語): 月面における太陽からの高エネルギー陽子線は宇宙機の帯放電の原因となり故障に繋がる。陽子線誘起二次電子放出係数（Proton induced Secondary Electron Emission Yield: P-SEEY）は宇宙機開発における帯電解析に必要な物性値であるが，実測報告例は非常に少ない。また，既報ではエネルギー範囲によって別報となっている為，一元的な解析が出来ていない。そこで，本研究では広エネルギー範囲でのP-SEEYを測定可能なシステムの構築を行い，AuのP-SEEY測定を試みた。

本誌掲載ページ: 55-56 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 428 Kバイト