欠陥模擬構造における部分放電発生領域の評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-001

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Estimation of Partial Discharge Area in Simulation Defect Structure

著者名: 竹内勇貴（三重大学）,榊原天翔（三重大学）,青木裕介（三重大学）,飯田和生（三重大学）,梅村時博（三重大学）,小迫雅裕（九州工業大学）,匹田政幸（九州工業大学）,中前哲夫（東芝産業機器システム）,前田照彦（東芝産業機器システム）,尾崎多文（東芝産業機器システム）

著者名(英語): Yuki Takeuchi (Mie University),Takato Sakakihara (Mie University),Yusuke Aoki (Mie University),Kazuo Ida (Mie University),Tokihiro Umemura (Mie University),Masahiro Kozako (Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita (Kyushu Institute of Technology),Tetsuo Nakamae (Toshiba Industrial Products and Systems Co.),Teruhiko Maeda (Toshiba Industrial Products and Systems Co.),Tamon Ozaki (Toshiba Industrial Products and Systems Co.)

キーワード: 部分放電|欠陥模擬構造|部分放電発生領域|有限要素法|Partial Discharge|Simulation Defect Sample|Partial Discharge Area|Finite Element Method

要約(日本語): 本研究では，ボイド欠陥を模擬した球電極/樹脂/空隙/樹脂/平板電極系において，平板電極を透明電極化することで，課電試験中の部分放電由来の発光を可視化し，欠陥内での部分放電発生領域の範囲を測定した。さらに有限要素法を利用した同試料構造で空隙部の分担電圧の推定結果から，パッシェン則に基づき放電領域を推定し，撮影結果から求まる放電範囲との比較を行った。

本誌掲載ページ: 1-2 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 652 Kバイト