X線光電子分光法によるPt/PTFE界面のバンドアラインメントの解明

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-026

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): XPS study of band alignment at Pt/PTFE interface

著者名: 好永るり佳（東京大学）,鈴木遥登（東京大学）,岡野諒（東京大学）,小林正起（東京大学）,熊田亜紀子（東京大学）,佐藤正寛（東京大学）

著者名(英語): Rurika Yoshinaga (The University of Tokyo),Haruto Suzuki (The University of Tokyo),Ryo Okano (The University of Tokyo),Masaki Kobayashi (The University of Tokyo),Akiko Kumada (The University of Tokyo),Masahiro Sato (The University of Tokyo)

キーワード: XPS|ポリマー|金属|絶縁材料|バンドアラインメント|電荷注入障壁|XPS|polymer|metal|insulator|band alignment|charge injection barrier

要約(日本語): 材料間の電荷移動特性の評価には，接合界面における電荷注入障壁が重要である。しかしながら，金属/半導体界面と比較して，金属/絶縁体界面のバンドアラインメントを決定する理論は未確立である。本稿ではPt/PTFE（ポリテトラフルオロエチレン）界面のバンドアラインメントをXPS（X線光電子分光法）を用いて測定した結果を報告する。
求められた正孔注入障壁，電子注入障壁はそれぞれ2.9 eV，5.5 eVであり，PtとPTFEのフェルミエネルギーは一致しないことがわかった。実験結果は真空準位をそろえた場合のバンドアラインメントとも異なり，界面の相互作用がバンドアラインメントに大きな影響を与えることを示唆する。

本誌掲載ページ: 28-29 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 434 Kバイト