ミラープラトー電圧に着目したパワーデバイスの状態監視回路

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-005

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Condition monitoring circuit for MOSFET focusing on mirror plateau voltage

著者名: 赤崎勇生（東京都立大学）,和田圭二（東京都立大学）

著者名(英語): Yuki Akazaki (Tokyo Metropolitan University),keiji Wada (Tokyo Metropolitan University)

キーワード: 状態監視|パワーデバイス|信頼性|ゲート駆動回路|Condition monitoring|Power device|Reliability|Gate drive circuit

要約(日本語): パワーエレクトロニクス回路において，スイッチングを行うためのパワーデバイスは必要不可欠であるが，同回路内の故障の原因としての割合が最も高く，全体の3分の1程度を占めている。これらは長時間回路を運転することに起因する摩耗故障が占める割合が高い。こうした課題への対処としてデバイスの電気的特性をモニタリングする手法である状態監視が有効である。本稿では状態監視パラメータとしてミラープラトー電圧に着目し，その変動を検出する回路構成と運用を提案しその有効性をシミュレーションにて示した。本手法は従来のスイッチング波形を対象とした状態監視回路と比較して，コントローラに要求される時間分解能を低くすることが可能であるという特長を有する。

本誌掲載ページ: 6-8 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 574 Kバイト