走査型プローブ顕微鏡を用いた電流近因磁場観測の基礎検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-136

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Basic Study on the Observation of Magnetic Field from Electric Current Using Scanning Probe Microscope

著者名: 大山祐生（千葉工業大学）,角真輝（千葉工業大学）,佐藤宣夫（千葉工業大学）

著者名(英語): Yuki Oyama (Chiba Institute of Technology),Masaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Nobuo Satoh (Chiba Institute of Technology)

キーワード: 走査型プローブ顕微鏡|Scanning Probe Microscope

要約(日本語): 交番磁気力顕微鏡は，試料下部から探針に対して，特定の変調周波数を有する交番磁場を印加，その周波数成分を位相検波することで，従来では困難であった表面磁場の極性，ゼロ検出を実現する優れた手法である。先行研究例では，交番磁場の印加対象である探針と大きな間隙があることから，具体的な磁場均一性も距離2 mmに対して±6 mmと報告されている。我々は，比較的簡易的な電磁石付属試料台を設計・開発した。特に，探針－磁場源間距離を極限的に縮小できたことにより，探針に対して良好な磁場垂直性と磁場均一性が期待される。そのため本報告では，交番磁場発生源である電磁石付属試料台の周波数特性，磁場均一性について議論する。

本誌掲載ページ: 216-217 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 999 Kバイト