Multi-Stacked 無絶縁REBCOパンケーキコイルの局所的常電導転移発生における挙動評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-116

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Behavior evaluation when local normal-state occur in multi-stacked no-insulation REBCO pancake coil system

著者名: 中村太郎（早稲田大学）,根本羽衣（早稲田大学）,北村真由（早稲田大学）,津吉杏佳（早稲田大学）,長渕大河（早稲田大学）,濱田一希（早稲田大学）,石山敦士（早稲田大学）,野口聡（北海道大学）

著者名(英語): Taro Nakamura (Waseda University),Ui Nemoto (Waseda University),Mayu Kitamura (Waseda University),kyoka Tsuyoshi (Waseda University),Taiga Nagahuchi (Waseda University),Kazuki Hamada (Waseda University),atsushi Ishiyama (Waseda University),So Noguchi (Hokkaido University)

キーワード: 無絶縁コイル|高磁場MRI|医療用加速器|熱的安定性|REBCO線材|no-insulation coil|high-field MRI|medical accelerator|thermal stability|REBCO conductors

要約(日本語): 二律背反の関係にある高熱的安定性と高電流密度化を同時に実現する技術として無絶縁（NI）コイル開発を行っている。今回は，MRI等への応用を想定してNI-REBCO ダブルパンケーキ（DP）コイルを2つ積層したMulti-Stacked コイルについて，局所的線材劣化が発生した場合の電磁的・熱的挙動を数値解析した。その際，運転温度とコイルの内径をパラメータとして変化させ，劣化発生時における運転の可否について比較・評価したので報告する。

本誌掲載ページ: 195-196 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 499 Kバイト