電流ゼロ点直前のCuCr電極間とCuTe電極間における中性粒子密度および電子密度

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-019

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Density of Neutral Vapor and Electron just before Current Zero in CuCr and CuTe Interelectrode Gap

著者名: 平野雄一（東京大学）,前出祐亮（東京大学）,佐藤正寛（東京大学）,熊田亜紀子（東京大学）,日高邦彦（東京大学）,大坊昂（東芝インフラシステムズ）,日俣幸彦（東芝インフラシステムズ）,神谷朋輝（東芝インフラシステムズ）,丹羽芳充（東芝インフラシステムズ）,浅利直紀（東芝インフラシステムズ）,稲田優貴（埼玉大学）

著者名(英語): Yuichi Hirano (The Univeresity of Tokyo),Yuryo Mede (The Univeresity of Tokyo),Masahiro Sato (The Univeresity of Tokyo),Akiko Kumada (The Univeresity of Tokyo),Kunihiko Hidaka (The Univeresity of Tokyo),Akira Daibo (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions),Yukihiko Himata (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions),Tomoki Kamiya (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions),Yoshimitsu Niwa (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions),Naoki Asari (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions),Yuki Inada (Saitama University)

キーワード: 真空遮断器|アーク放電|プラズマ診断|vacuum interrupter|arc discharge|plasma diagnostics

要約(日本語): 真空アークの電流ゼロ点直前における中性粒子密度と電子密度の二次元分布を，シャックハルトマン型レーザ波面測定法を用いて測定し，CuCr電極とCuTe電極で密度を比較した。その結果，同電流値では線積分電子密度は同程度であった一方で，CuTeの線積分中性粒子密度はCuCrの5-10倍であった。CuCrでは主電流が2.5 kA_rms以下では遮断成功したが，CuTeでは0.3 kA_rms以上で遮断失敗した。CuTe電極ではCuCr電極より金属材料が蒸発しやすいことで遮断失敗に至りやすかったと考えられる。

本誌掲載ページ: 22-23 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 572 Kバイト