経年劣化したカムスイッチの導通不良メカニズムの解明

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-056

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Elucidation of Conduction Failure Mechanism of The Cam Switch Due to Aged Deterioration

著者名: 慶野太一（東京電力ホールディングス）,山中淳平（東京電力ホールディングス）,龍岡照久（東京電力ホールディングス）

著者名(英語): Taichi Keino (Tokyo Electric Power Company Holdings, Inc.),Junpei Yamanaka (Tokyo Electric Power Company Holdings, Inc.),Teruhisa Tatsuoka (Tokyo Electric Power Company Holdings, Inc.)

キーワード: カムスイッチ|経年劣化|導通不良|歪み|ポリブチレンテレフタレート|樹脂|cam switch|aged deterioration|conduction failure|distortion|Poly Butylene Terephthalate|resin

要約(日本語): 制御盤等の機器において近年，経年劣化に伴いカムスイッチの動作不具合が発生している。しかしながら不具合原因が不明のまま機器取り換えを行う場合が多く，再び同様の不具合が生じている。分解調査の結果，経年によりカムスイッチの樹脂ケースに歪みが生じ，樹脂ケースが反ることによって摺動する駆動接点の動きが緩慢になることが判明した。さらに樹脂ケースの反りにより駆動接点の一部がケースの溝穴へ引っ掛かることを確認した。再発防止策として，経年したカムスイッチの樹脂ケースの固定ネジを緩め，ケースの歪みを開放し，その後，適正トルクで管理することとした。

本誌掲載ページ: 68-69 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 380 Kバイト