インピーダンス計測による太陽電池モジュールのバイパス回路の故障検出技術の基礎検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-016

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Fundamental Study of Fault Detection Technology for Bypass Circuits of PVM by Impedance Measurement

著者名: 豊田丈司（日本大学）,横澤康汰（日本大学）,西川省吾（日本大学）

著者名(英語): Joji Toyoda (College of Science and Technology, Nihon University),Kota Yokosawa (Graduate School of Science and Technology, Nihon University),Syogo Nisikawa (College of Science and Technology, Nihon University)

キーワード: 太陽電池|太陽光発電|photovoltaic|photovoltaic power system

要約(日本語): 太陽光発電の利点としてメンテナンスフリーという点が挙げられてきた。しかし，実際には太陽電池モジュールの保護回路であるバイパス回路の故障や太陽電池のセルの故障，ストリングの直列抵抗増加といった様々な故障があり，太陽光発電システムにおいて故障検出は重要なものとなっている。本研究では，太陽電池のインピーダンス計測による故障の有無，種類を知るための検出技術の確立を目的としている。本稿では，バイパス回路の故障検出について基礎検討結果を示す。
試験内容としてバイパス回路の開放故障と短絡故障を，インピーダンス計測により検出している。

本誌掲載ページ: 22-24 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 533 Kバイト