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赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路の開放故障検出技術 ー移動物体の映り込みによる外乱除去技術の検証―

赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路の開放故障検出技術 ー移動物体の映り込みによる外乱除去技術の検証―

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-017

グループ名: 【全国大会】令和4年電気学会全国大会論文集

発行日: 2022/03/01

タイトル(英語): Open Fault Detection Technology of Bypass Circuit of PV Module -Verification of Removal Technology for Disturbance of Reflection by Moving Objects-

著者名: 窪田洸(日本大学),西川省吾(日本大学)

著者名(英語): Hiro Kubota (Nihon University),Shougo Nishikawa (Nihon University)

キーワード: 太陽電池|赤外線カメラ|バイパス回路|Solar Cell|Infrared Camera|Bypass Circuit

要約(日本語): 本研究は,太陽電池モジュールの保護回路であるバイパス回路が,開放故障した位置を検出できる技術の確立を目的としている。本研究では,赤外線カメラを用いてモジュール表面の温度を計測するが,周囲の建物などの映り込みの影響を除去するため,周期性のある電圧をストリングに印加していた。しかしながら,移動する多数の小さい雲が存在する天気では,映り込みの影響が大きく残る場合があった。このため,雲の映り込みの影響軽減のために,太陽電池ストリングへの印加電圧の周波数が2種類の合成波を印加した。
その結果,2種類の周波数を合成して解析することで移動する雲の影響を軽減できることが確認できた。

本誌掲載ページ: 24-26 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 726 Kバイト

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