シリコーンゲルで絶縁されたプリント配線パターン電極の繰り返しESD試験における絶縁破壊電圧回復特性に及ぼす環境温度の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-051

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Influence of Temperature on Self-hearing Characteristics of Breakdown Voltage of Printed-wiring Pattern Electrode System Insulated with Silicone Gel during the Repetitive ESD Tests

著者名: 木下慎悟（九州工業大学）,大塚信也（九州工業大学）

著者名(英語): Shingo Kinoshita (Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka (Kyushu Institute of Technology)

キーワード: シリコーンゲル|自己回復特性|絶縁破壊|静電気放電|温度|架橋|Silicone Gel|Self-healing characteristic|Dielectric breakdown|Dielectric breakdown|Temperature|cross-linking

要約(日本語): 筆者らはこれまで，パワーデバイスの封止材として使用されているシリコーンゲル（以下ゲルと呼ぶ）に対して，ゲル自体の絶縁特性やゲル中トリー進展メカニズムあるいは絶縁破壊前に発生する前駆信号の検出等を幅広く検討している。ゲル中の絶縁破壊は破壊部にボイドが発生するが，ボイドは時間経過と共に消滅することがあり，絶縁特性も回復することを確認している。本論文では，ゲルで絶縁されたプリント配線パターン電極で繰り返しESD試験を行い，試験前のボイドの大きさと絶縁破壊電圧の関係を調べると共に，繰り返し試験を行う休止期間（回復

本誌掲載ページ: 66-67 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 406 Kバイト