長期課電による模擬ボイドにおける部分放電の電荷量-位相特性と発光分布の変化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-004

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Change in q-Φ-n Characteristics and Light Emission Distribution of Partial Discharges in Artificial voids Due to Long-term Voltage Application

著者名: 青木裕介（三重大学）,竹内勇貴（三重大学）,榊原天翔（三重大学）,飯田和生（三重大学）,梅村時博（三重大学）,小迫雅裕（九州工業大学）,匹田政幸（九州工業大学）,伊藤大貴（東芝産業機器システム）,中前哲夫（東芝産業機器システム）,大山公治（東芝産業機器システム）,前田照彦（東芝産業機器システム）,尾崎多文（東芝産業機器システム）

著者名(英語): Yusuke Aoki (Mie University),Yuki Takeuchi (Mie University),Takato Sakakihara (Mie University),Kazuo Iida (Mie University),Tokihiro Umemura (Mie University),Masahiro Kozako (Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita (Kyushu Institute of Technology),

キーワード: 長期課電|模擬ボイド|部分放電|電荷量-位相特性|発光分布|Long-term Voltage Application|Artificial voids|Partial Discharge|q-Φ Characteristic|Light Emission Distribution

要約(日本語): 高電圧機器における絶縁劣化原因として，絶縁システムにおける樹脂あるいは樹脂複合体内部での欠陥由来の部分放電が原因となることが知られている。欠陥を含む電極/樹脂/電極系において透明電極を利用することで放電領域を可視化して，q-Φ-n特性との相関が調べられている。本研究では，密閉ボイドおよび開放ボイドを模擬した試料構造における長期課電時のq-f-n特性およびボイド内部の放電領域の変化を調べることで，長期課電時の絶縁体の劣化状態の変化の把握を試みた結果を報告する。

本誌掲載ページ: 4-5 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 603 Kバイト