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EOL条件における二次電子放出係数の計測と酸化劣化の影響

EOL条件における二次電子放出係数の計測と酸化劣化の影響

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-024

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Measurement of Secondary Electron Emission Coefficients under EOL Conditions and The Effect of Oxidative Degradation

著者名: 劔持祥星(東京都市大学),天水皐輔(東京都市大学),三宅弘晃(東京都市大学),田中康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Sachiho Kemmotsu (Tokyo City University),Kousuke Amamizu (Tokyo City University),Hiroaki Miyake (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University)

キーワード: 二次電子|高分子|ポリイミド|真空|secondary electron|polymer|polyimide|vacuum

要約(日本語): 宇宙機の材料選定では帯放電を考慮する必要があり,本研究では二次電子放出係数に着目し軌道上で衛星運用後の状況を考慮し負荷処理を施した後の衛星材料のSEEY変化について研究を行っている。近年,環境負荷照射とSEEYを測定する設備が異なることから生じる大気暴露がSEEYに与える影響について検証が必要となっている。本報告ではGEO 9年運用時相当の電子線を照射したポリイミドを用い大気の有無によるSEEYの変化を調査した。劣化照射後に真空保持した状態でのSEEYは上昇するが劣化後大気暴露をする事で未劣化と同様のSE

本誌掲載ページ: 25-26 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 469 Kバイト

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