ディジタルホログラフィとLITの併用手法による電子デバイスの欠陥位置検出

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-081

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Defects of electronic devices detected by the combined method of both digital holography and LIT techniques.

著者名: 森川滉太（島根大学）,横田正幸（島根大学）

著者名(英語): Kota Morikawa (Shimane University),Masayuki Yokota (Shimane University)

キーワード: ディジタルホログラフィ|ロックイン発熱解析|非破壊検査|電子デバイス|電子機器|太陽光パネル|Digital Holography|Lock-in Thermal Emission|Non-destructive inspection|Electronic device|Electronics|Solar panel

要約(日本語): 近年，電子機器等に用いられる電子部品は性能向上により小型・高密度化が進んでいる。これに伴い電子機器の故障検査もその高精度化が求められている。そこで我々は，物体の変形をnm精度で測定可能なディジタルホログラフィ（DH）干渉法と，時系列の熱画像にロックイン原理を適用し，高精度に故障位置の推定が可能なロックイン発熱解析（LIT）法を併用した電子デバイスの故障診断法を提案する。本研究では過電圧により故障させた太陽光パネルに交流電圧（0-8Vpp，1.0Hz，正弦波）を印加した際の変形と温度変化をDHとLITで同時

本誌掲載ページ: 128-129 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 555 Kバイト