エラー関連電位に基づく二者択一式ブレイン・マシン・インターフェースの実現可能性の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-120

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Feasibility study of brain-machine interface using two ways selection method based on error-related potentials

著者名: 荒翔太（東北学院大学）,加藤和夫（東北学院大学）,門倉博之（東北学院大学）,石川敦雄（京都府立大学）

著者名(英語): Shota Ara (Graduate School of Tohoku Gakuin University),Kazuo Kato (Tohoku Gakuin University),Hiroyuki Kadokura (Tohoku Gakuin University),Astuo Ishikawa (Graduate School of Life and Environmental Sciences, Kyoto Prefectural University)

キーワード: ブレイン・マシン・インターフェース|エラー関連電位|脳波|Brain-machin interface (BMI)|Error-related potential (ErrP)|electroencephalography (EEG)

要約(日本語): 我々はブレイン・マシン・インターフェースの精度向上のため，間違いの認知処理から発せられるエラー関連電位の活用を試みている。本研究では，左右どちらかの矢印方向を選ぶ二者択一式のBMIを模したシステムの操作タスクにおいて，エラー関連電位がどのような特徴を示すのかについて検討を行った。選択した矢印方向とBCIの動作結果の矢印方向が一致の場合の脳波をNo Error，不一致の場合の脳波をErrorとしたとき，Errorは350[ms]付近に陽性のピークがあるのに対し，No Errorでは300[ms]付近に陽性の

本誌掲載ページ: 190-191 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 549 Kバイト