ゲート駆動過電圧時におけるSiC MOSFETのスイッチング特性評価
ゲート駆動過電圧時におけるSiC MOSFETのスイッチング特性評価
カテゴリ: 全国大会
論文No: 4-016
グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集
発行日: 2023/03/01
タイトル(英語): Evaluation of Switching Characteristics of SiC MOSFETs under Gate Drive Overvoltage.
著者名: 寒河江貴英(東京都立大学),和田圭二(東京都立大学),林真一郎(千葉工業大学)
著者名(英語): Takahide Sagae (Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University),Shin-Ichiro Hayashi (Chiba Institute of Technology)
キーワード: SiC MOSFET|スイッチング損失|チャネル抵抗|SiC MOSFET|Switching loss|Channel resistance
要約(日本語): 電力変換回路の多様な応用への展開が議論されており,さらなる小型・軽量化,高効率化が求められている。そこで,SiC MOSFETの利用拡大が期待されている。SiC MOSFETは,オン抵抗低減のためにドリフト層が薄く設計されているが,チャネル抵抗はSi MOSFETよりも大きいことが課題である。本研究では,SiC MOSFETの高効率駆動を目的として,ゲート駆動電圧に定格値以上の電圧を印加する方法を提案する。本稿では,1,200V耐圧のデバイスを対象として,定格ゲート駆動電圧の2倍を印加した場合のダブルパル
本誌掲載ページ: 24-26 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 322 Kバイト
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