ダブルパルス試験による事前決定駆動パラメータを用いた電力変換回路の動特性改善

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-020

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Improvement of Switching Characteristics of Power Conversion Circuits Using Gate Driving Parameters Pre-determined by Double-Pulse Testing

著者名: 福永崇平（大阪大学）,高山創（京都大学）,引原隆士（京都大学）

著者名(英語): Shuhei Fukunaga (Osaka University),Hajime Takayama (Kyoto University),Takashi Hikihara (Kyoto University)

キーワード: ゲート駆動回路|ディジタルゲートドライバ|SiC MOSFET|多目的遺伝的アルゴリズム|ダブルパルス試験|Gate driving circuit|Digital gate driver|SiC MOSFET|Multi-objective genetic algorithm|Double-pulse testing

要約(日本語): アクティブゲート駆動方式は，SiC MOSFETの高速スイッチング動作により生じるスイッチングサージ電圧を低減できる。著者らはゲートドライブ方式の完全ディジタル化を目指し，ディジタルアクティブゲートドライバ（DAGD）を提案している。過去の報告で，多目的遺伝的アルゴリズムによるDAGDのゲート駆動波形の最適化ツールを提案し，ダブルパルス試験（DPT）により実証した。しかし，電力変換回路の動作状態の変化に合わせて全探索を毎回実行すると，劣解のサージ電圧や損失増加による，故障発生が懸念される。そこで，定格駆動

本誌掲載ページ: 30-32 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 585 Kバイト