液体窒素温度以下での単結晶サファイアの歪応力測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-145

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Strain stress measurement of single crystal sapphire below liquid nitrogen temperature

著者名: 山本実奈（中部大学）,神田昌枝（中部大学）,山口作太郎（中部大学）,岩田暢祐（SCT社）,羽田肇（SCT社）,鯉沼秀臣（SCT社）,川嶋一裕（信光社）

著者名(英語): Mina Yamamoto (Chubu University),Masae Kanda (Chubu University),Sataro Yamaguchi (Chubu University),Yousuke Iwata (SCT, Inc.),Hajime Haneda (SCT, Inc.),Hideomi Koinuma (SCT, Inc.),Kazuhiro Kawashima (SHINKOSHA CO., LTD)

キーワード: 単結晶サファイア|液体窒素|クライオスタット|歪ゲージ|電気抵抗|縦弾性係数|Single crystal sapphire|Liquid nitrogen|Cryostat|Strain gauge|Electrical resistance|Young's modulus

要約(日本語): 単結晶サファイアは，液体窒素温度以下では，銅より熱伝導率が高いため，低温での幅広い応用が想定される。今回，単結晶サファイアの低温での歪応力測定を行い，ヤング率（縦弾性係数）を求めた。従来，歪ゲージは，材料や測定温度で使い分けて来た。このため，数多くの歪ゲージが必要とされた。そこで，4端子計測法を用いることで使い分けの必要性の確認と同時に新しい計測方法の開発につなげることが目的である。4端子計測法では歪ゲージ抵抗の精密測定が可能であり，スラッシュ窒素温度までの測定方全体の再評価が可能であると考えたからである

本誌掲載ページ: 245-246 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 448 Kバイト