JT-60SA EFコイルの過渡応答が引き起こす導体間電圧の評価
JT-60SA EFコイルの過渡応答が引き起こす導体間電圧の評価
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-151
グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集
発行日: 2023/03/01
タイトル(英語): Evaluation of voltage caused by Transient Response in JT-60SA EF coil
著者名: 小林倫香(上智大学),園田翔梧(上智大学),結縄ことみ(上智大学),中村一也(上智大学),村上陽之(量子科学技術研究開発機構),濱田一弥(量子科学技術研究開発機構),畠山昭一(量子科学技術研究開発機構),島田勝弘(量子科学技術研究開発機構)
著者名(英語): Tomoka Kobayashi (Sophia University),Shogo Sonoda (Sophia University),Kotomi Yuinawa (Sophia University),Kazuya Nakamura (Sophia University),Haruyuki Murakami (National Institutes for Quantum Science and Technology),Kazuya Hamada (National Institutes for
キーワード: JT-60SA|回路シミュレーション|安定性|過渡応答|JT-60SA|Circuit Simulation|Stability|Transient Response
要約(日本語): JT-60SAの超電導コイルの一部である平衡磁場(EF)コイルの電源はシステムの影響により電圧変動が生じている。この電源がEFコイルに印加した際,過渡応答によりコイル内の電圧分布が不均一になる。結果,この電圧は絶縁材の耐電圧を超え,コイルの損傷を招く可能性がある。本研究では,EFダミーコイルを用いて共振特性試験を行った。また,試験結果を基にEF6コイル,常温ブスパー及び超電導フィーダ,構造物を含むEF6コイル全体の解析モデルを作成し,過渡応答による導体間電圧の影響について調査した。解析の結果,実機運転では
本誌掲載ページ: 255-256 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 334 Kバイト
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