真空中交流コンディショニングにおける粒子起因による多重絶縁破壊

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-013

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Multiple Breakdown Induced by Particles in High Frequency AC Conditioning in Vacuum

著者名: 小名木良太（名古屋大学）,小島寛樹（名古屋大学）,飯塚伸介（日立産機システム）,小林将人（日立産機システム）,早川直樹（名古屋大学）

著者名(英語): Ryota Konagi (Nagoya University),Hiroki Kojima (Nagoya University),Shinsuke Iitsuka (Hitachi Industrial Equipment Systems Co.,Ltd.),Masato Kobayashi (Hitachi Industrial Equipment Systems Co.,Ltd.),Naoki Hayakawa (Nagoya University)

キーワード: 真空遮断器|絶縁破壊|コンディショニング|高周波交流|真空|vacuum circuit breaker|breakdown|conditioning|high frequency|vacuum

要約(日本語): 真空中交流コンディショニングにおいて，半周期内に複数回絶縁破壊（BD）するような多重BDが発生する。多重BDが発生する原因として，直前のBDによる残留金属蒸気とBD時に発生した粒子の対向電極への衝突・付着の2つが考えられる。本稿では，Al製球電極とCu製平板電極を用いてコンディショニングを施し，Cu電極上のAl粒子の付着状況を観察することで，粒子起因による多重BDの可能性を検討した。その結果，Cu平板電極表面にΦ10μmオーダーのAl粒子が付着していた。また，推定した全Al粒子数は多重BD回

本誌掲載ページ: 15-16 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 510 Kバイト