赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路の開放故障検出技術 －印加電圧の大きさが故障検出精度に与える影響－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-017

グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集

発行日: 2023/03/01

タイトル(英語): Open Fault Detection Technology of Bypass Circuit of PV Module －Effect of Amplitude of Applied Voltage on Fault Detection Accuracy－

著者名: 千脇伸仁（日本大学）,窪田洸（日本大学）,西川省吾（日本大学）

著者名(英語): Nobuhito Chiwaki (College of Science and Technology, Nihon University),Hiro Kubota (College of Science and Technology, Nihon University),Shogo Nishikawa (College of Science and Technology, Nihon University)

キーワード: 太陽電池モジュール|バイパス回路開放故障|印加電圧値|電池温度変化|赤外線カメラ|pv module|bypass circuit open fault|applied voltage value|battery temperature change|infrared camera

要約(日本語): 太陽電池モジュールの保護回路であるバイパス回路が開放故障するとホットスポットの原因となるため，早期に故障位置を検出する技術の開発を目的としている。筆者らは，これまでストリングに周期性のある電圧を印加し，温度変化を赤外線カメラで観察する方法で，日射に関係なく故障位置の検出が可能な技術を開発してきた。しかしながら，移動する小さな雲の映り込みがある場合はモジュール表面の熱画像に影響を及ぼし，正確な温度変化の把握が困難だった。この課題を解決するため，印加電圧の大きさの影響について調査し，高日射，低日射ともに印加電

本誌掲載ページ: 27-29 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 884 Kバイト