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高電圧プローブの複数接続による測定への影響
高電圧プローブの複数接続による測定への影響
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 7-053
グループ名: 【全国大会】令和5年電気学会全国大会論文集
発行日: 2023/03/01
タイトル(英語): Effects of Multiple Connections for High Voltage Probes on Measurement
著者名: 小椋陽介(中部電力),伊佐治宏子(中部電力),吉田昌展(中部電力)
著者名(英語): Yosuke Ogura (Chubu Electric Power Co.,Inc.),hiroko Isaji (Chubu Electric Power Co.,Inc.),Masanobu Yoshida (Chubu Electric Power Co.,Inc.)
キーワード: 高電圧プローブ|周波数帯域|high voltage probe|bandwidth
要約(日本語): 電気所の機器開閉に伴って発生するサージのような高電圧・高周波信号を測定する際に,静電容量の小さなプローブを用いて測定するものの少なからず波形に影響を及ぼし,サージ波形を忠実に測定できない場合がある。とりわけ,サージの伝搬特性を測定する場合など,同一の回路上に複数のプローブを接続することが求められる場合には,電気所で発生するサージの実状を正確に把握することを困難にしている。本稿では,高電圧プローブを複数台接続することによる被測定回路の信号への影響を調査し,7種類のプローブにおける評価結果を示した。
本誌掲載ページ: 89-90 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 372 Kバイト
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