1
/
の
1
着脱可能な光学ターゲットを用いたアモルファス薄帯の磁歪測定法
着脱可能な光学ターゲットを用いたアモルファス薄帯の磁歪測定法
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-088
グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集
発行日: 2024/03/01
タイトル(英語): A Magnetostriction Measurement Method of Amorphous Sheets Using Detachable Optical Target
著者名: 横井川弘巳(同志社大学)
著者名(英語): Hiromi Yokoigawa (Doshisha University)
キーワード: アモルファス|磁歪|光学ターゲット|Amorphous|Magnetostriction|Optical Target
要約(日本語): 横型複ヨーク単板磁気特性試験器を用いた方向性電磁鋼板(GO)や高配向性鋼板(Hi-B)などの磁歪評価を行う試験法が提案・検討され,2021年に規格化された。今回,その試験法をFe基アモルファス薄帯(AM)の磁歪測定用に改良を試みた。AMの厚さは,薄い上に平坦度も低く,剛性が十分でないため,GOやHi-B用試験法の適用は困難である。さらに試料に貼り付ける光学ターゲット(OPT)が磁歪測定結果に影響を与える可能性がある。そこで,OPTの形状,接着法,設置位置などの影響を検討した。今回の検討により,l p-pや l 0-pのオーダは評価可能になったと考えているが,バタフライループについては改善の余地があり,今後,試料枚数を増やして検討する予定である。
本誌掲載ページ: 96-98 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 775 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
