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着脱可能な光学ターゲットを用いたアモルファス薄帯の磁歪測定法

着脱可能な光学ターゲットを用いたアモルファス薄帯の磁歪測定法

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-088

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): A Magnetostriction Measurement Method of Amorphous Sheets Using Detachable Optical Target

著者名: 横井川弘巳(同志社大学)

著者名(英語): Hiromi Yokoigawa (Doshisha University)

キーワード: アモルファス|磁歪|光学ターゲット|Amorphous|Magnetostriction|Optical Target

要約(日本語): 横型複ヨーク単板磁気特性試験器を用いた方向性電磁鋼板(GO)や高配向性鋼板(Hi-B)などの磁歪評価を行う試験法が提案・検討され,2021年に規格化された。今回,その試験法をFe基アモルファス薄帯(AM)の磁歪測定用に改良を試みた。AMの厚さは,薄い上に平坦度も低く,剛性が十分でないため,GOやHi-B用試験法の適用は困難である。さらに試料に貼り付ける光学ターゲット(OPT)が磁歪測定結果に影響を与える可能性がある。そこで,OPTの形状,接着法,設置位置などの影響を検討した。今回の検討により,l p-pや l 0-pのオーダは評価可能になったと考えているが,バタフライループについては改善の余地があり,今後,試料枚数を増やして検討する予定である。

本誌掲載ページ: 96-98 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 775 Kバイト

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