ダブルスターMMC向けサブモジュール2台を用いた主回路通電試験方法の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-026

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): Development of a Test Method of Submodule Power Circuits for Double-Star MMCs Using Two Submodules

著者名: 寺園大祐（三菱電機）,檜垣優介（三菱電機）,中山暁斗（三菱電機）,灘香帆（三菱電機）

著者名(英語): Terazono Daisuke (Mitsubishi Electric),Higaki Yusuke (Mitsubishi Electric),Nakayama Akito (Mitsubishi Electric),Nada Kaho (Mitsubishi Electric)

キーワード: モジュラーマルチレベル変換器|MMC|サブモジュール|試験方法|ダブルスター|Modular Multilevel Converter|MMC|Submodule|Test Method|Double-Star

要約(日本語): 大容量電力変換器の1つにダブルスターモジュラーマルチレベル変換器（MMC）が挙げられる。ダブルスターMMCは6つのアームを有し，各アームは多数台のサブモジュール（SM）を直列接続する。SM主回路はスイッチング素子・DC部コンデンサ・バスバー等で構成され，通電試験を通してそれらの電気的性能・熱的性能等の評価を行う。SM主回路の通電試験方法はいくつか提案されているが，SM設計・試作初期の工程では，可能な限り少ない台数のSM，小容量の設備で実施可能な通電試験方法が求められる。また，通電試験時のSMの出力電圧・コンデンサ電圧・通電電流の波形は，ダブルスターMMC内におけるSMの各波形と同等であることが望ましい。本稿では，ダブルスター向けのSM2台を用いた主回路通電試験方法を提案し，シミュレーション結果を報告する。

本誌掲載ページ: 43-44 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 416 Kバイト